電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是如何測試的

更新時間：2025-11-15

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STD-D-2低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)

電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是如何測試試驗范圍：STD-D-2低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、STD-D-2型介電常數(shù)測試主機、組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案。

一 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是如何測試的本設備適用標準：

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

二 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是如何測試的介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試主機：

1 STD-D-2參數(shù)

測量功能
測試頻率		10 Hz－2MHz，10mHz分辨率

測試參數(shù)		\|Z\|, \|Y\|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR
基本測量準確度		0.05%
等效電路		串聯(lián), 并聯(lián)
數(shù)學功能		絕對值偏差, 百分比偏差
量程方式		自動, 保持, 手動選擇
觸發(fā)方式		內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
測量速度（≥1kHz）		快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒
平均次數(shù)		1—255
延時時間		0—60s, 以1ms步進
校準功能		開路/ 短路/ 負載
測試端配置		五端
列表掃描		10點列表掃描功能
顯示方式		直讀，Δ，Δ%，V/I（被測電壓/電流監(jiān)視）
顯示器		800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD顯示器
測試信號
輸出阻抗			30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可選擇
測試信號電平			正常： 5mV-2V, 1mV步進恒電平：10mV-1V, 1mV步進
偏置源	內(nèi)部		0V, 1.5V, 2V
	選配		UC6802A：±10V（±100mA）直流偏置電流
			UC6802B：0-1A直流偏置電流
顯示范圍
\|Z\|, R, X			0.01mΩ —99.9999 MΩ
DCR			0.01 mΩ —99.9999 MΩ
\|Y\|, G, B			0.00001µS —99.9999 S
C			0.00001 pF —9.9999 F
L			0.00001 µH —9999.99 H
D			0.00001 —9.9999
Q			0.00001 —9999.9
θ(DEG)			-179.999o —179.999 o
θ(RAD)			-3.14159 —3.14159
其他
比較器功能			十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個附屬檔AUX
存儲器			10組內(nèi)部儀器設定供存儲/調(diào)用
接口			標配RS232C、HANDLER、USB HOST，耳機接口

三（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≤15mm （二選一）

液體：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

四 STD-D-2低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:

1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等